SIM - Sistema Interamericano de Metrologia

O SIM - Sistema Interamericano de Metrologia é um acordo de cooperação entre as organizações nacionais de metrologia dos 34 países membros da OEA - Organização dos Estados Americanos. Criado em 1979, foi revitalizado a partir de 1997 por um suporte técnico do NIST - National Institute of Standard and Tecnology - e uma contribuição do governo americano a um projeto da OEA-OST (Office of Science and Technology - escritório de ciência e tecnologia).

Funciona em cooperação com diversas organizações internacionais, tais como BIPM - Bureau Internacional de Pesos e Medidas, OIML - Organização Internacional de Metrologia Legal, ILAC - International Laboratory Accreditation Cooperation e IMEKO - International Measurement Confederation.

Atividades em:

Metrologia

  • Assegurar a uniformidade dos padrões de medição nas Américas e estender, em âmbito internacional, a confiança nas atividades relativas a medidas;
  • Coordenação de um programa de intercomparações entre os padrões de medição dos laboratórios nacionais das Américas, em consonância com o programa de comparações-chave ("key comparisons") coordenado pelo BIPM;
  • Treinamento de cientistas e técnicos da área;
  • Geração e distribuição de documentação técnica e científica.

Endereços

Instituto Nacional de Metrologia e Qualidade
Rua Santa Alexandrina, 416 - 10° andar - Rio Comprido
CEP 20261-232 - Rio de Janeiro - RJ - Brasil
Tel: (055) (21) 2273-9002
Fax: (055) (21) 2293-0954
http://www.sim-metrologia.org.br
E-mail: sim@sim-metrologia.org.br