| SIM
- Sistema Interamericano de Metrologia
O SIM - Sistema Interamericano de Metrologia é um
acordo de cooperação entre as organizações
nacionais de metrologia dos 34 países membros da OEA - Organização
dos Estados Americanos. Criado em 1979, foi revitalizado a partir de 1997
por um suporte técnico do NIST - National Institute of Standard
and Tecnology - e uma contribuição do governo americano
a um projeto da OEA-OST (Office of Science and Technology - escritório
de ciência e tecnologia). Atividades em: Metrologia
Endereços Instituto Nacional de Metrologia e Qualidade |